Сохранить в закладки:
| Дата | Минимальная цена | Маскимальная цена | Средняя стоимость |
|---|---|---|---|
| Jul-24-2026 | 5998 | 6298 | 6148 |
| Jun-24-2026 | 5947 | 6244 | 6095.5 |
| May-24-2026 | 4990 | 5240 | 5115 |
| Apr-24-2026 | 5846 | 6138 | 5992 |
| Mar-24-2026 | 5090 | 5345 | 5217.5 |
| Feb-24-2026 | 5746 | 6033 | 5889.5 |
| Jan-24-2026 | 5695 | 5980 | 5837.5 |
| Dec-24-2025 | 5645 | 5927 | 5786 |
| Nov-24-2025 | 5594 | 5874 | 5734 |
90.99 - Фитинг 32 мм 1-1/4" труба наружного диаметра 1,5" тройная... Подробнее...
2081.98 - 12мм(внешний диаметр) x 8мм(внутренний диаметр) PU Растяжимая возду... Подробнее...
- 1 шт. горячий водо-масляный сепаратор встроенный для компрессорной ... Подробнее...
257.48 - ЗАТЫЧКА из нейлона с защелкой PA66 диаметром 25 мм для панелей мебе... Подробнее...
1242.3 - Фильтр воздушного насоса BFR2000 1/4 BFR3000 3/8 BFR4000 1/2 редукц... Подробнее...
- 1/2-дюймовый жидкотонкий коннектор для гибкой электрической трубы P... Подробнее...
Двухсторонняя полировка одинарного кристалла кремния
Характеристики:
Один кристалл,Двухсторонняя полировка, 12 дюймов
Материал:
Высокая чистота кремния Si одиночный Кристалл подложки. N/P опционально.
Использование:
1. PVD/CVD покрытие подложки
2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные подложки
3. Экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения
4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания
5. Процесс литографии полупроводников и так далее










